English

Rencana NIR Apo 50X/0.67 – Tujuan Metalurgi sing Dikoreksi Tanpa Batas kanggo Pencitraan Liwat Silikon & Pemantauan Proses Laser Serat

Rencana NIR Apo 50X/0.67 – Tujuan Metalurgi sing Dikoreksi Tanpa Batas kanggo Pencitraan Liwat Silikon & Pemantauan Proses Laser Serat Gambar Unggulan
  • Rencana NIR Apo 50X/0.67 – Tujuan Metalurgi sing Dikoreksi Tanpa Batas kanggo Pencitraan Liwat Silikon & Pemantauan Proses Laser Serat
  • Rencana NIR Apo 50X/0.67 – Tujuan Metalurgi sing Dikoreksi Tanpa Batas kanggo Pencitraan Liwat Silikon & Pemantauan Proses Laser Serat

Rencana NIR Apo 50X/0.67 – Tujuan Metalurgi sing Dikoreksi Tanpa Batas kanggo Pencitraan Liwat Silikon & Pemantauan Proses Laser Serat

NIR Plan Apo 50X/0.67 minangka mikroskop objektif apokromatik rencana koreksi tanpa wates premium sing dioptimalake khusus kanggo aplikasi inframerah cedhak (NIR). Kanthi aperture numerik (NA) 0,67 lan jarak kerja (WD) 10 mm, mikroskop iki ngasilake resolusi sing luar biasa (0,5 µm) lan transmisi NIR sing apik banget ing rentang sing katon 380-700 nm uga dawa gelombang kritis 1064 nm - saengga cocog kanggo inspeksi sisih mburi wafer silikon, metrologi liwat silikon (TSV), lan pemantauan wektu nyata saka pangolahan laser serat.

Spesifikasi Utama:

  • Pembesaran: 50X
  • Apertur Numerik (NA): 0.67
  • Jarak Kerja (WD): 10 mm
  • Dawane fokus: 4 mm
  • Resolusi: 0,5 µm
  • Ambane lapangan (±DF): 0,75 µm
  • Jarak pandang maksimal: 0,5 mm
  • Bobot: 430 g
  • Desain optik: Koreksi tanpa wates, apokromat rencana (APO)
  • Dawane gelombang kerja: 380–700 nm & 1064 nm
  • Media perendaman: Udara

Rincian Produk

Tag Produk

Aplikasi khas:
Inspeksi semikonduktor– Inspeksi wafer sisih mburi, pangukuran TSV (liwat silikon), tinjauan cacat sawise pemotongan laser
Analisis kegagalan– Pencitraan non-destruktif liwat substrat silikon kanggo mriksa struktur sing dikubur
Pangolahan laser– Pengamatan wektu nyata saka ablasi, pengeboran, utawa pengelasan laser serat 1064 nm ing ilmu material lan manufaktur
Metalurgi & ilmu material– Inspeksi resolusi dhuwur saka zona sing kena panas laser, lapisan cetakan ulang, lan mikrostruktur
Mikroskopi fluoresensi NIR– Kanggo sampel biologis utawa bahan sing mbutuhake eksitasi inframerah cedhak
Mikroskop Objektif


  • Sadurunge:
  • Sabanjure:
    • Tulis pesenmu ing kene lan kirim menyang kita

    KATEGORI PRODUK

    Panjang gelombang wis fokus ing nyedhiyakake produk optik presisi dhuwur sajrone 20 taun

    Pencet enter kanggo nggoleki utawa ESC kanggo nutup